产品概述

6240B是遵循测量功率的6240A即一直积极多年半导体测试的性能，是新具有高速响应的脉冲产生/测量功能，低电阻测量功能，它可以测试的接触电阻，如连接的事情。半导体是较小逐年，为了测试具有***的特性，它以测量微小功率不引起自加热是重要的。 6240B是zui小脉冲宽度为50μs，以满足这样的要求是允许测量与脉冲发生器和1μs的分辨率。因此，半导体可以通过提供一个电压或电流范围不自加热来测量。

另外，通过测试，同时传播该脉冲通过小宽度小，以允许温度依赖性的评价。此外，连接器和线束，例如分流电阻的电子设备，在不损失的电信号的通路的接触电阻的测量是非常重要的。特别是，当不同的金属相接触的热电功率产生的，它会成为测定的大的误差。

低电阻测量由6240B，它是沿着它是在JIS“连接器的测试方法的电子定义可以在不到20mV的测量，取消该热电这是在错误因素之一它有一个内置的功能是可用的，因为高的精度测试。

生器特点

生成和测量范围

电压：0?±15V电流：0?±4A（DC为1A）

基本精度：±产生0.02％，测定

51/2位（±319999），测量分辨率1μV/100pA减的

zui大20毫秒之间，源/±4A的接收器是可能的

zui小脉冲宽度为50μs与传统的10倍的性能，分辨率为1μs的脉冲测量

可吸收双极性输出

实现热电低电阻测量功耗取消