上海伯东美国 inTEST ThermoStream 高低温冲击热流仪, 兼容各品牌光学检测设备, 提供显示行业 LCD, LCM, TV, monitor, OLED 器件, OLED 模组, Micro LED, Mini LED, 车载显示, LED Light Bar, 背光模组等器件在高低温环境下的光学性能测试.
高低温环境下 OLED 器件光学性能测试系统
inTEST 热流仪 ATS-545 与德国液晶显示屏测量系统联用进行 LED 高低温环境测试. 每个 DMS 系统都可以扩展一个适当的冷热系统, 以进行 LED 光学显示特性和一致性测试的温度相关测量.
使用 inTEST ATS-545 热流仪优势
通讯: 兼容 Ethernet, IEEE-488, RS232,可通过光学测量系统 GPIB (IEEE-488) 直接控制
集成方便: inTEST ATS-545 吹风口可直接与光学测量系统测试腔体连接
温度范围广: -75 至 +225 °C 50Hz
测试温度控制: 根据您的不同温度环境测试需求, 可设置 0-12 组温度循环冲击测试
快速升降温:- 55 至 +125°C 约 10 s, +125至 -55°C 约 10 s ( air 模式下)
输出气流量: 4 至 18 scfm
兼容市面上各品牌光学检测设备
可持续稳定运行, 极低的故障率
超过 50 年的研发生产, inTEST 在全球范围内提供准确的温度控制解决方案
上海伯东美国 inTEST 热流仪兼容各品牌光学检测设备, 完成再电高低温环境下的光学性能测试. 是光学检测设备必不可少的组成之一.美国 inTEST ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 温度冲击范围 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防静电设计, 不需要 LN2 或 LCO2 冷却, 温度显示精度: ±1℃, 通过 NIST 校准. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证. inTEST 热流仪提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯东是美国 inTEST 中国总代理.
若您需要进一步了解 inTEST 热流仪详细信息或讨论,
请联络上海伯东: 叶女士 13918837267
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