荷兰 TeraNova B.V. 是開發和商業化計量儀器，主要使用光學和太赫茲輻射進行散射以測量半導體與光學元件表面特徵。可量測奈米級表面結構細節，屬於非破壞非接觸式量測。
我们的团队由一个关于太赫兹、微波和光学科学技术的专家组组成。我们位于布兰波特地区中心的埃因霍温技术大学,可以利用各种最先进的设备来发展太赫兹技术和测量高科技材料并对其进行定性。
我们的愿景
我们的目标是利用光学辐射和太赫兹辐射,开发用于散射测量和半导体特性描述的计量仪器并使之商业化。这些仪器提供了关于为光子学和量子应用而制作的晶圆质量的重要信息。此外,我们还向荷兰布雷波特地区的高科技公司提供专门知识和支持。
产品和服务
带准直照明的散射测定
我们的专利技术使我们能够检查周期光栅用于光和量子技术的质量。我们决定改变。
高分辨率太赫兹近场显微镜
我们独特的仪器能够研究光激发半导体的瞬态光电导性和载波寿命,提供大量的数据,是理想的半导体特性和质量检查。
顾问和测量服务
我们最先进的实验室和设备使我们能够在电磁辐射的广谱范围内进行各种实验,这是深入描述不同材料和结构所必需的。探索我们技术的可能性和规格。
