使薄膜厚度易于测量
美国 Semiconsoft, Inc. 成立于2001年,任务是使薄膜厚度测量分析的数据和 n&k 对用户更加方便和透明。TFCompanion 软件使工程师能输入椭圆仪,反射率,透光率和成像椭圆仪数据并快速分析.TFCompanion 是唯一支持从各种薄膜测量系统导入测量数据的软件，对数据的一致分析有助于对系统进行定性，它还有助于确定哪些系统配置最适合特定的应用程序，TFCompanion 成为薄膜测量软件的一个事实上的标准。
MProbe system 系统于2008年发布， 新设计的光谱反射器硬件集成了TFCompanion软件，为用户提供了一套买得起、精度高、用户友好的软件接口的薄膜测量系统。操作人员通过几分钟的训练，就能在不到一秒钟内完成测量，每个人都是一个薄 MProbe system 膜测量专家。
MProbe system 薄膜测量系统和软件基于客户反馈的新需求持续不断更 , 我们从未停止发展和创新。我们不断学习新的用途，MProbe syste 被应用于成千上万的薄膜应用,，除了标准系统配置外,我们还为OEM和生产应用提供定制系统开发。
我们所有的产品在美国设计和制造，从基础编程到最高标准,我们为此感到骄傲。
主要产品
光反射膜厚仪
应用领域
薄膜太阳能、半导体、生物医疗、数据储存、化学、显示器产业、光学镀膜…等，其波长范围涵盖 UV-VIS-IR 可选，测试膜厚为1nm~1mm。
