艾利普索科技（Ellipso Technology）成立于2000年7月份，是生产通过薄膜薄层的偏振态变化来测量和分析薄膜结构、性质的光学测量仪器的公司。我们在这一领域积累了30年的优秀经验，通过提供最优良的设备以及针对相关薄膜和光偏振态变化的建议，我们会促使贵公司的发展和成长。
薄膜在21世纪纳米技术（NT）时代有着多样化的应用，因此，对薄膜的结构和性能测量的仪器—椭偏仪(Ellipsometer)的需求也大大的增加。
然而，由于基础设施缺乏，国内工业企业不得不100%的依靠进口设备。Kim Sang-Youl—Ajou大学的教授，世界上著名的椭偏法专家。在2000年7月，以其丰富的研究经验成立了艾利普所科技。这是国内最专业的公司，特别是在薄膜的偏振分析上。
金教授通过艾利普所科技公司开发了单波长椭偏仪(Single Wavelength Ellipsometer, SWE)和光谱椭偏仪(Spectroscopic Ellipsometer, SE)，他还发展延伸了系统，包括加入双激光，可变入射角（AOI），映射，微观察，偏振控制，光谱传输/反射比等。
另外，除了椭偏仪和偏振器等产品，通过综合椭偏仪与分光计，并且采用探针式光谱反射计（m-FFT），我们公司研发和供应了宽范围测量厚度的光学设备，可测量如从亚埃级薄膜到数百微米厚的厚膜，用于各种产品，比如图案上的 MgO模式, OLED, LED, 太阳能电池(Solar Cell)等。
此外，基于椭偏和偏振技术，我们开发了的超精准度的偏振测量设备，比如迟缓(R_in, R_th, Zero Retardation)分析设备，拓片薄膜测量系统，高铬（<百万：1）测量系统，针对多组合平板（含偏振板和补偿板）的光轴弯曲测量系统，还有微偏振测量器相继被开发。
通过不断的研究，艾利普所科技成为了世界上光学薄膜分析设备领先的制造商。我们希望通过提供客户定制和薄膜&偏振分析系统的行业导向跟你们一起成长。
