LKT4304芯片对比认证方案

对比认证方案应用模式固定，调试简单，MCU主控端只需要移植对称加密算法和简单的加密操作即可，不需对主控MCU端原有程序做大的改动。同时也不需要用户了解加密芯片内部运行流程，因此调试周期短，研发投入小。

对比认证方案实现的步骤如下：

1. 主控MCU与加密芯片端分别预置安全密钥Key1、Key2（相同的3DES密钥）

2. MCU与加密芯片端预置相同的初始向量Iv(8字节)

3. MCU端发送附带16字节随机数Rand1（密文传送）指令，请求加密芯片产生挑战数据

4. 加密芯片端使用Key2解密指令数据得到Rand1

5. 加密芯片端产生16字节随机数Rand2

6. 计算D1，D1 = (Rand1 ^ Rand2)

7. 生成挑战数据D, D= D1 || Rand2

8. 计算密文C，C =3DES_EncCBC(Iv，key2, D)。并将C返回给MCU  

9. MCU端解密密文C，3DES_DecCBC(Iv，key1, C)，截取Rand2

10. MCU端计算D1’,  D1’ = (Rand1 ^ Rand2)

11. 如果 D’ == D 则认证成功，否则认证失败

对比认证流程如如下所示：