Micron Meters Semiconductor Backed Strain Gage 应变片

Micron Instruments提供了一系列半导体背衬测量仪。，易于安装，安装在带有多功能焊盘的柔性绝缘电路上，使该设备易于安装。测量仪和金丝被涂上过多的涂层，以密封水分，并在应用过程中为测量仪提供额外的保护。，足够灵活，能够绕直径为0.5英寸的杆弯曲。，性能灵敏度是箔式测量仪的50到75倍。，称重传感器和箔桥上的线性和稳定性可用作线性校正器。0.125%FS的非线性可以校正到小于满量程的0.05%。长期稳定性不会受到影响。，建议使用原型来验证概念，并用于瞬态或高频测量。