Gongjin Micro 共进微电子 CIS 光学传感器晶圆 测试

CIS 光学传感器晶圆测试

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共进微电子提供针对CIS光学传感器晶圆测试服务。

可测性能参数除基本电性,漏电流,动静态电流等,可依照客户定制化模块实现摄像模组的CIS功能测试。



CIS光学传感器晶圆测试系统具备先进的技术指标:


l 支持8英寸、12英寸晶圆测试

l Class 10 洁净度测试腔体

l 128 数字通道

l 50MHz 矢量 / 8Mhz 深度

l 4*CPHY模式数据传输 速率2.5GH

l 24 位LVDS 接口

l 红、绿、蓝三色滤光镜

l 3200K/5600K光源 光照强度10000LUX

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