产品介绍
Z系列探头适合QFN封装芯片测试,间距从300mm - 800mm。高频可靠的RFSignal完整性,自清洗系统确保移除Pad的Sn,以获得更高的测试收率。
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半封装测试探针(SEMI)-Z系列探针 测试探针资源附件
文件名称 | 大小 | 操作 |
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202109275226 | 158.88 KB | 下载 |
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Z系列探头适合QFN封装芯片测试,间距从300mm - 800mm。高频可靠的RFSignal完整性,自清洗系统确保移除Pad的Sn,以获得更高的测试收率。
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