产品介绍
射频导纳测量技术是具有独特优势的物位测量技术。虽然跟一般的电容式测量技术的概念很相似，但 是射频导纳技术在电子单元中加入了Driving-Shield电路和斩波电路，因此能够实现阻抗和容抗的单独测 量。通过物理定律计算可得，任何挂料的阻抗和容抗的大小是相等的，所以由挂料产生的影响能够被测量出 来并且通过振荡电路的移相，从总的输出中消除。
射频导纳物位计的探头安装在储料罐中，通过探头获得物位变化引起的射频信号的变化。探头的 Driving-Shield端能够阻止射频电流通过挂料形成回路，保证了仪表测量的准确性。
抗挂料 独特的Driving-Shield电路设计提高了抗挂料能力
供电范围 电源工作区间：13～35VDC
适应性 探头过程温度：-100℃～800℃ 无死区测量，可以应用到十几公分甚至几公分的物位测量场合大量程 最大测量量程可达上百米，甚至几百米 粘稠性物料界面测量是该仪表的巨大优势。
稳定性 稳定可靠的输出，耐飞灰、落料、水汽、结晶、结蜡影响
免维护 无活动、无易磨损部件，无需经常清洁、保养、调试
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