产品介绍
美国Dataray Beam'Map2扫描狭缝光束质量分析仪
产品介绍:
美国DataRay的Beam'Map2扫描狭缝光束质量分析仪是在Beam'R2的升级款,相比于Beam'R2的两队狭缝,Beam'Map2在旋转圆盘上不同的Z轴位置安装4对狭缝,可以同时在四个不同的z位置观测四个光束轮廓,从而能进行实现实时、多平面测量光束质量M2测量。
产品特点:
·190 ~ 1150nm,硅探测器
·650 ~ 1800 nm, InGaAs探测器
·1000 ~ 2300或2500 nm, InGaAs(扩展)探测器
·光束直径5µm至4mm,刀口模式2µm
·USB 2.0端口供电;柔性3米电缆;无外部电源
·0.1µm采样和分辨率
·实时X-Y-Z光束剖面分析,束腰位置测量
·实时多Z轴平面扫描狭缝系统
·实时M2,发散角 ,激光准直度测量
光束轮廓分析仪Beam'map2系列应用:
·小尺寸连续激光束轮廓分析
·光学组件和仪器对准
·OEM集成
·镜头焦距测试
·实时诊断聚焦和对准误差
型号参数:
型号 | Beam'Map2 – XY Scanning Slit Beam Profiler | |||
CCD材料 | Si | Si + InGaAs | InGaAs | Si+InGaAs (extended) |
波长范围 | 190 to 1150 nm | 650 to 1800 nm | 190 to 1800 nm | 190 to 2300 or 2500 nm |
探测尺寸 | 5 µm to 4 mm‚低2 µm(刀口模式) | 10 µm to 3 mm‚低2 µm(刀口模式) | 10 µm to 3 mm‚低2 µm(刀口模式) | 10 µm to 2 mm‚低2 µm(刀口模式) |
分辨率精度 | 0.1 µm或扫描范围的0.05% | |||
刷新频率 | 5Hz | |||
测量激光类型 | CW;脉冲激光器,Φµm≥[500 /(PRR以kHz为单位) | |||
动态范围 | 1000:1可调范围 | |||
大功率或辐照度 | 0.5 mW / µm² | |||
系统要求 | Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port |
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