罗姆推出新型无需光耦即可过零检测的IC

2021-08-30
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摘要 ROHM(罗姆)凭借在电源领域深耕多年的经验,不局限于电源IC,放眼于整个方案,针对10年来未曾更改、竞争对手也未曾关注的着眼点——过零检测电路,开创性地推出了无需光耦也可进行过零检测IC,待机功耗极低,可靠性更高。

       随着物联网的普及和发展,Wi-Fi等通信功能配置在不断的普及,普及的速度也不断的变快。为了保证通信功能的正常进行,各种家电包括白色家电、黑色家电在内,它都要始终处于通电状态,这种状态无疑增加了家电类产品的待机功耗。另一方面,家电产品的显示器日新月异,逐步朝着大型化、高性能化和多功能化的发展,显示部分越来越复杂,需要搭载高性能微控制器等,导致工作功耗不断增加。而为满足绿色可持续化发展的要求,家电产品就需要不断的降低待机功耗和工作功耗,到底该如何解决呢?

       传统上来说,一般是通过降低电源IC的功耗来解决,只不过,尽管AC/DC已经降低50%,但尚未达到2013年欧盟规定的0.5W待机功耗标准,已然无法再有更大的突破。

       ROHM(罗姆)凭借在电源领域深耕多年的经验,不局限于电源IC,放眼于整个方案,针对10年来未曾更改、竞争对手也未曾关注的着眼点——过零检测电路,开创性地推出了无需光耦也可进行过零检测IC,待机功耗极低,可靠性更高,大幅度减少过零检测时的延迟时间,提高全球家电产品的可靠性和效率。

       据ROHM半导体(北京)有限公司青岛分公司经理徐济炜介绍称,新产品的三大特性有助于大幅降低白色家电的待机功耗并提高其可靠性。

       先进的过零检测IC

       新产品是一款新进的过零检测IC,待机功耗低至0.01W。这是怎么做到的?在传统的使用光耦的电路中,光耦利用光学器件传输信号时,存在时间延迟所造成的功率损失的问题,转换效率也比较差。另外,光耦中的发光二极管存在树脂等材料随着时间老化的问题,可靠性堪忧。新产品解决了光耦的问题,无需光耦即可过零检测,大幅降低过零检测电路的待机功耗。

       大幅度减少延迟时间

       新产品内置电机输入电压检测电路的功能,省掉了电机输入电压检测电路,减少了待机功耗和部件数量,从而减少过零检测时的延迟时间,提高了家电产品的可靠性和效率。

       轻松替换以往的过零检测电路

       徐济炜称,此次推出的过零检测IC系列产品阵容强大,可应对以往的过零检测电路中适用的电路(普通整流/倍压整流)和波形(Pulse/Edge)。无需更改软件即可轻松替换以往的过零检测电路。同时,新产品具有保护后段电路的“电压钳位功能”,保证过零检测IC输出给MCU的电压,不超过普通MCU的最大额定电压5V的功能,这就意味着整个后端的MCU不会因为输入高压过高而导致损坏,提高了整个方案的可靠性。

       小结

       在白色家电的电路开发中,过零检测电路尚未得到足够的重视,ROHM以此入手开发出的无需光耦即可过零检测IC,大幅降低了家电产品的待机功耗。据悉,凭借多年在AC/DC产品领域积累的经验,ROHM目前正在以过零检测IC为核心,面向白色家电市场开发出过零检测IC和AC/DC一体化的封装,进一步可以提高电源的功率密度,减小电源部分整体的体积。

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这家伙很懒,什么描述也没留下

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