6月12日，国微芯联合Siemens和深圳市高新技术产业促进中心，顺利开展了汽车电子芯片功能验证和DFT技术培训。本次活动为广大DFT工程师和芯片设计相关从业人员提供了一个深入学习、交流的平台，旨在探讨如何应对快速发展的汽车及智能驾驶系统中带来的安全隐患，并通过可测试性设计确保芯片的安全性和可靠性。
在培训演讲中，国微芯工程师Andy Tang结合她十余年的可测试性设计经验以《如何高效规划车规芯片DFT设计技术思路以及流程》为主题，为与会者带来了丰富的经验交流和启发。
随着汽车及智能驾驶系统的快速发展，车载芯片的数量不断增长，而汽车功能的升级也带来了安全隐患。为了防止芯片出现bug导致车辆及人员损伤的可能性，DFT工程师引入了可测试性设计到芯片设计中，以确保芯片的安全性和可靠性。
Andy Tang重点提到，国微芯DFT设计能够为芯片提供高质量、低测试成本的DFT解决方案，根据芯片特点和设计需求，定制DFT架构，规划SCAN/MBIST/ REPAIR/LogicBist/BSCAN方案帮助完成IP测试、ATE测试、向量诊断和良率提升等任务，助力车规芯片满足各项国际安全质量标准的要求，并介绍了以下几个关键的“技术亮点”。
“技术亮点”回顾
1、Memory BIST 架构实现 存储器“自愈”
为确保汽车的安全性，芯片储存器必须是安全可靠的。汽车芯片中的存储器故障可能导致汽车无法启动、系统无法正常运行或无法响应驾驶员的指令等问题。国微芯的Memory BIST系统架构，具备算法原子化及适应先进工艺制造条件下复杂多变的算法需求的能力，可以实现储存器的自诊断-自修复过程，以确保储存器的可靠性和稳定性。
2、在线自测试确保系统稳定性
国微芯使用Mission Mode Controller，配合计算机系统完成在线自测试和诊断，修复，包括模块的功能验证检查。此外，它还能够在芯片功能运行期间定期进行测试，通过低延迟的系统级访问方式，对所有芯片上的测试资源进行在线测试和诊断，包括模块的功能验证检查、跨时钟域的亚稳态检查等，以确保芯片系统的稳定性。
3、Scan技术促进测试-设计迭代
Scan技术在测试和检测逻辑电路方面发挥了作用。通过机台测试，检测芯片生产过程工艺缺陷探查芯片应用条件边界，高效设定生产筛选规格，并通过分析测试结果识别设计问题，促进测试-设计迭代。所积累的产品系列数据，可以为未来的产品提供参考，提高芯片的可测试性和质量。
要开发一款成功的车规芯片，需要从芯片设计的源头开始，贯穿设计、制造和封装测试等环节，进行全方位的把控。国微芯DFT团队凭借多个自研架构和丰富的设计经验，提供全面的车规解决方案，确保车规安全，致力于为客户提供最优质的服务，帮助客户提高芯片测试效率和可靠性，降低成本，并缩短产品上市时间。
本次培训活动的顺利举办，为车规芯片的开发与应用领域带来了宝贵的交流和合作机会。未来，国微芯DFT团队将继续发挥自身优势，推动车规芯片技术的创新和应用的推广，以满足不断升级的车规标准和日益复杂的应用场景。同时，国微芯还将与合作伙伴们加强沟通与合作，共同推动车规芯片产业的快速发展，为构建智能、安全、可靠的汽车交通系统贡献力量。