探测器:三明治检测器 |
测量原理:单色和双色 |
光谱范围:1.45 – 1.75 µm |
探测器:三明治检测器 |
测量原理:单色和双色 |
光谱范围:H: 0.8 – 1.1 μm L: 0.8 – 1.1 μm |
探测器:三明治检测器 |
测量原理:单色和双色 |
光学分辨率:80×80 像素 |
像素间距:34 µm |
探测器:非制冷红外探测器 |
光学分辨率:80×80 像素 |
像素间距:34 µm |
探测器:非制冷红外探测器 |
光学分辨率:80×80 像素 |
像素间距:34 µm |
探测器:非制冷红外探测器 |
探测器:非制冷红外探测器 |
光学分辨率:80×80 像素 |
像素间距:34 µm |
光学分辨率:382×288 像素 |
像素间距:17 µm |
探测器:非制冷红外探测器 |
光学分辨率:382×288 像素 |
像素间距:17 µm |
探测器:非制冷红外探测器 |
光学分辨率:382×288 像素 |
像素间距:17 µm |
探测器:非制冷红外探测器 |
光学分辨率:382×288 像素 |
像素间距:17 µm |
探测器:非制冷红外探测器 |
光学分辨率:382×240 像素 |
像素间距:17 µm |
探测器:非制冷红外探测器 |
光学分辨率:382×240 像素 |
像素间距:17 µm |
探测器:非制冷红外探测器 |
光学分辨率:382×240 像素 |
像素间距:17 µm |
探测器:非制冷红外探测器 |
光学分辨率:382×240 像素 |
像素间距:17 µm |
探测器:非制冷红外探测器 |
光学分辨率:640×480 像素 |
像素间距:12 µm |
探测器:非制冷红外探测器 |
光学分辨率:640×480 像素 |
像素间距:12 µm |
探测器:非制冷红外探测器 |
光学分辨率:640×480 像素 |
像素间距:12 µm |
探测器:非制冷红外探测器 |
像素间距:15 µm |
探测器:CMOS |
光谱范围:高温测量: 0.85 – 1.1 µm |
像素间距:15 µm |
探测器:CMOS |
光谱范围:高温测量: 0.85 – 1.1 µm |
像素间距:15 µm |
探测器:CMOS |
光谱范围:高温测量: 0.85 – 1.1 µm |
像素间距:15 µm |
探测器:CMOS |
光谱范围:高温测量: 0.85 – 1.1 µm |
光学分辨率:382×288 像素 |
像素间距:17 µm |
探测器:非制冷红外探测器 |
光谱范围:低温测量: 8 – 14 µm |
光学分辨率:382×288 像素 |
像素间距:17 µm |
探测器:非制冷红外探测器 |
光学分辨率:382×288 像素 |
像素间距:17 µm |
探测器:非制冷红外探测器 |
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