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Precise Instrument 普赛斯仪表
武汉普赛斯仪表有限公司 是武汉普赛斯电子股份有限公司的全资子公司,公司以源表为核心产品,专注于半导体电性能测试设备的开发、生产与销售,提供精准高效的第三代半导体材料、晶圆、器件测试的整体解决方案及服务。聚焦第三代半导体领域高端测试设备的国产化,武汉普赛斯仪表坚持自主创新研发,积极打造对标进口、国内领先的实验与测试平台。掌握多项电性能测试核心专利技术,构建了高精度台式数字源表、脉冲式源表、窄脉冲电流源、脉冲恒压源、集成插卡式源表、高精度的超大电流源、高精度脉冲大电流源、高精度高压电源、数据采集卡等系列产品,电流覆盖pA至kA,电压覆盖μV至kV。基于自主核心仪表产品,我司创新打造了半导体参数分析仪、功率器件静态参数测试系统、大功率激光器老化测试系统、miniLED测试系统、电流传感器测试系统等测试平台,以高效率、高精度、低成本为核心,实现市场应用的集成创新。公司已建成覆盖全国的营销服务网络,并积极布局海外市场。凭借长期的技术创新、精益的生产制造、严格的质量体系及国际化视野,成为为数不多进入国际半导体测试市场供应链体系的半导体电性能测试设备厂商。产品被国内外知名高校、科研院所以及半导体企业广泛应用,并与多家半导体测试机厂家建立长期稳定的合作关系。未来,公司将始终以“提供供应链可控的高性能、低成本的有特色的测试仪器仪表和测试系统”为价值导向,坚持创新驱动,持续赋能全球半导体产业智能化测试升级。主要产品台式仪表S系列高精度台式源表,SXXB系列高精度台式源表,P系列高精度台式脉冲源表,PX00B系列高精度台式脉冲源表,PL系列窄脉冲LIV测试系统HCP系列大电流台式脉冲源表,HCPL100高电流脉冲电源,HCPL系列大功率激光器测试电源,E系列高电压源测单元插卡式仪表CS系列插卡式数字源表,A400数据采集卡,CP系列脉冲恒压源测试系统SPA6100半导体参数分析仪,PMST功率器件静态参数测试系统,半导体功率器件C-V特性测试系统,LDBI多路大功率激光器老化系统,CTMS电流传感器测试系统激光半导体测试解决方案功率半导体,分立器件,集成电路,材料研究,传感器,微电子教学研发团队4位教授级专家/博士研发人员总数占比60%以上研发人员30%为硕士核心技术竞争力模拟电路设计fA级电流输出与测量,6kA电流输出与测量,10kV高压输出与测量仿真设计板级分布参数提取,热性能仿真,高速信号完整性算法设计ms级指令响应,丰富的自定义扩展,高效低噪声数字电源测试验证精度、温漂等验证平台,丰富的功率器件测试经验,完善的测试设备发展历程2009年武汉普赛斯电子股份有限公司成立2010-2014年国家高新技术企业 误码仪、光功率计、光衰等产品问市2015年成立数十人的源表研发团队2015-2018年激光半导体行业: 光模块测试、OSA/ROSA/BOSA测试、TO测试等设备问市功率半导体行业: 源表一代产品应用于国际知名通信企业2019年武汉普赛斯仪表有限公司成立2019-2020年激光半导体行业:激光器耦合测试仪、LIV综合测试仪、采样示波器市场份额领先功率半导体行业: 国产化数字源表率先产业化:S系列、P系列、 PL窄脉冲测试系统2021-2024年国家级专精特新“小巨人”企业湖北省上市“金种子”企业高新技术企业激光半导体行业: 激光雷达TO老化、VCSEL晶圆等测试系统 功率半导体行业: 聚焦三代半,更高精度、更大电流、更大电压,产品矩阵全覆盖企业愿景成为化合物半导体光电测试仪器仪表龙头企业 企业使命让半导体企业的制造与测试更高效 核心价值观完美 求精 服务 创新
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Precise Instrument 普赛斯仪表
产品目录
产品列表
武汉普赛斯仪表 普赛斯PMST-8000V 半导体测试设备
普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备,产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU)的第三代半导体功率器件静态参数测试方案,为SiC和GaN器件提供可靠的测试手段,实现功率半导体器件静态参数的高精度、高效率测量和分析,SiC功率器件测试设备认准普赛斯仪表咨询
武汉普赛斯仪表 SPA-6100型半参 半导体测试设备
武汉普赛斯1200V半导体分析仪替代4200具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有桌越的测量效率与可靠性。
武汉普赛斯仪表 霍尔系统CTMS-1000A 半导体测试设备
武汉普赛斯仪表 PMST-8000V功率器件测试系统 半导体测试设备
普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备,产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU)的第三代半导体功率器件静态参数测试方案,为SiC和GaN器件提供可靠的测试手段,实现功率半导体器件静态参数的高精度、高效率测量和分析。如果您对普赛斯功率半导体器件静态参数测试方案和国产化高精度源表感兴趣,欢迎随时联系我们!
Precise Instrument 普赛斯仪表 国产S100B型号 半导体测试设备
普赛斯数字源表SMU是整个测试系统的核心部分,用户可以根据材料器件不同的电流、电压,配置不同规格参数的源表和探针台,SMU数字源表搭建微电子教学实验平台认准普赛斯仪表
Precise Instrument 普赛斯仪表 PMST-3300V 半导体测试设备
Precise Instrument 普赛斯仪表 武汉SPA-6100 半导体测试设备
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