密闭高低温探针台
HTM系列密闭高低温探针台（Model: HTM-600C/800C/1200C专为半导体器件、电子元件及材料的高精度电性能测试设计。
其核心优势在于宽温区控制、高密闭性及智能化操作，可满足实验室与工业领域对复杂环境模拟的严苛需求。
天恒科仪-密闭高低温探针台
核心技术参数与设计亮点
热处理器与散热系统设计：
HTM系列采用多级半导体制冷技术，结合高速循环液冷系统，确保在-20℃至+150℃范围内实现快速、均匀的温控。
热处理器内置高精度热电偶阵列，实时反馈温度分布，配合PID算法动态调节功率输出，避免局部过热或过冷。
散热器采用90kg级铜铝复合材质，表面积扩大30%，搭配双风扇强制对流设计，可在满负荷运行时保持系统稳定性，延长设备寿命。
密闭腔体与防干扰能力：
25hO级气密屏障通过多层金属密封圈+真空吸附技术实现，漏率低于1×10⁻⁹ Pa·m³/s，可兼容氮气、氩气等惰性气体环境，满足敏感材料（如钙钛矿、二维材料）的防氧化测试需求。
腔体内部集成15kV防静电涂层，有效消除测试过程中的电荷积累，确保高频信号测量精度。
典型应用场景
核心应用领域
半导体器件测试：
晶圆级参数分析（如IV/CV曲线、击穿电压等）
高低温循环下的器件可靠性验证。
新材料研发：
宽温区（-20℃~+150℃）内材料电导率、热稳定性测试
极端环境下功能材料性能评估。
功率电子元件评估：
散热性能与温升曲线分析。
科研与教育：
高校实验室用于微电子、物理等学科教学实验
科研机构开展新型传感器、光电器件研究
密闭高低温探针台详细参数：
天恒科仪-密闭高低温探针台详细参数
智能化操作与高效流程
一键式测试：通过PC端软件预设温度曲线、探针移动路径及数据采集频率，全程自动化执行
实时监控大屏：支持多参数同屏显示（温度、湿度、电压、电流等），异常状态自动报警
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